检修AV功放机的技巧

    功放机的前置板工作于低电压、小信号状态，故障几率相当低。功放板则不同，它工作时，要受动态大电流的冲击，故障几率往往较高，再加上设计功率放大电路时，为了得到理想的频响和较高的共模抑制比，电路中广泛使用直耦方式，使得各级工作点相互牵连，这给判断故障范围带来了诸多不便。在此，特向读者介绍两种检修AV功放机的特殊方法，即“对比检修法”和“模糊检修法”。这两种方法简单易学，特别适应初学者。 

    1．对比检修法(简称对比法)

    何为对比检修法?众所周知，功放机均含左右两个声道，两声道的电路结构完全一样，彼此独立，对应元件在电路板上所呈现出的电阻及工作电压也几乎一致。这样，当一个声道正常而另一个声道出现故障时，就可以通过测量故障声道的元件阻值或电压值，再与正常声道的对应元件相对比来查出故障。利用此法时，要求了解电路的整体布局，分清元件所属的声道，并能找到两声道之间的对应元件。

  2．模糊检修法(简称模糊法)

    所谓模糊检修法是指在不甚了解电路结构和工作原理的情况下，直接在电路板上测量元件的阻值来找到故障所在。利用此法时应注意如下三点：

    第一，测量时，应本着先半导体元件，后电阻，再电容的顺序。因为实践表明，半导体元件损坏率 高，其次是电阻(尤其是大电流区的电阻)，再次是电容。

    第二，测量半导体元件时，万用表 好置Ω×1挡，被测元件正反向电阻都很小时，就列为击穿嫌疑对象，而那些在Ω×1挡上正反向电阻都很大的元件就列为断路嫌疑对象，再进一步脱机测量。

    第三，在路测量电阻值时，只要测量值大于标称值，就应将其列入损坏嫌疑对象，再脱机查证。利用模糊法很容易查出那些击穿程度较严重的半导体元件和电容，以及那些断路的半导体元件及电阻。

    目前，绝大多数AV功放机未附电路图，在无图纸的情况下，要想完全理清电路是比较困难的：故采用对比法和模糊法会起到事半功倍的效果。